X射線鍍層膜厚儀是一種高精度、非接觸式的測量設備，主要用于測量金屬電鍍層的厚度。其工作原理基于X射線穿透物體時強度衰減與物體厚度之間的相關性。該設備能夠快速、準確地測量單層、多層及合金組合物的厚度，并具備多種測量功能，適用于環保、化工、電子等多個領域。

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