X射線膜厚測試儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。

標題：X射線膜厚測試儀

產品概述

　　在化工、電子、電力、金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層"。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業已用戶進行成品質量檢測*的zui重要的工序。　

       對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。主要分為磁性鍍層測厚儀、電渦流鍍層測厚儀，X射線鍍層測厚儀三類測量方法。　　

　　X射線膜厚測試儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。　

　　X射線膜厚測試儀的產品特點：　　

　　1、良好的射線屏蔽作用。　　

　　2、測試口高度敏感性傳感器保護。　　

　　3、高分辨率探頭使分析結果更加精準。　　

　　4、滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求。　　

　　5、φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求。　　

　　6、高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。　

　　7、采用高度定位激光，可自動定位測試高度。　　

　　8、定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。　　

　　9、鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。