X射線膜厚儀通用的金屬標準片

X射線膜厚儀通用的金屬標準片Au2uinch/xx是單鍍層標樣，它是美國Calmetrics專業生產的，是用來為各*的X射線鍍層測厚儀建立測試標準化檔案的，同時，也是檢驗和校準測厚儀的的標準件。X射線膜厚儀通用的金屬標準片Au2uinch/xx即是金元素鍍層兩微英寸的標準厚度。每塊標準片出廠都附有原廠校驗證書。

美國Calmetrics公司專業生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產的標準片質量精良，精度高、穩定性好。
Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。
X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如：單鍍層：Au/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx。
鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。
X射線標準片又叫膜厚儀校準片或者鍍層厚度標樣，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片：
專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線，之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。

我司代理CalMetrics一系列鍍層標準片，適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）。
1.薄膜片,單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）； 銠（Rh）；鋅（Zn）；Cd（4）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）;鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.
2.鍍層標準片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。
3.合金標準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.定制厚度范圍：0.01~100μm.

特點：鍍層標準片質量精良，精度高、X-Ray儀器標準片。

一體式標樣又分單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。
例如：單鍍層：Ag/Cu，雙鍍層：Au/Ni/Cu， 三鍍層：Au/Ni/Cu/Fe，合金鍍層：Zn-Ni/Fe， 化學鍍層：Ni-P/Fe。（所有標準片都附有證書）

1.薄膜片，單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等。
2.鍍層標準片（一體式）：單鍍層：Ag/Cu，雙鍍層：Au/Ni/Cu， 三鍍層：Au/Ni/Cu/Fe，合金鍍層：Zn-Ni/Fe， 化學鍍層：Ni-P/Fe等。
3.合金標準片（薄片式）：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等。
4.測量厚度范圍：0.01-120μm。
我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國Calmetrics公司申請定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書，也可代客戶送檢第三方CNAS資質機構校驗（廣州計量）并出具校驗證書等優質服務。