美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片Ni 無(wú)限厚
用來(lái)為膜厚測(cè)試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的，同時(shí)也是檢驗(yàn)和校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。

標(biāo)題：美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片Ni 無(wú)限厚

產(chǎn)品概述

美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片Ni 無(wú)限厚標(biāo)準(zhǔn)片是用來(lái)為膜厚測(cè)試儀建立標(biāo)準(zhǔn)檔案的，同時(shí)也是檢驗(yàn)和校準(zhǔn)膜厚測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確的為一標(biāo)準(zhǔn)。它屬于易損易耗件，但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關(guān)，若操作得當(dāng)，小心保護(hù)且存放在干燥密封的皿器內(nèi)，那么可大大延長(zhǎng)其的使用時(shí)間。膜厚標(biāo)準(zhǔn)片是膜厚測(cè)試儀（X射線鍍層測(cè)厚儀）*的。

美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片Ni 無(wú)限厚實(shí)物圖片：

美國(guó)Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件，提供對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù)，公司通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證。公司提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI（American National Standards Institute美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)）標(biāo)準(zhǔn)。其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。

Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、韓國(guó)ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測(cè)、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測(cè)厚儀。

X射線測(cè)厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。如：?jiǎn)五儗樱篈u/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx。

鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于X射線類儀器的標(biāo)準(zhǔn)。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標(biāo)準(zhǔn)件都來(lái)自于美國(guó)Calmetrics公司。

X射線標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片：

專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線，之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。